鍍層厚度分析儀
- 產品型號:XRF-9500
- 更新時間:2015-11-07
- 產品介紹:目前常用的鍍層檢測方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光光譜法等。前五種方法要損壞產品或產品表面,是屬于有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟,可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數,是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。西凡科技生產的鍍層檢測儀使用的就是X射線熒光光譜法這一*的檢測技術。
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產品介紹
一、前言
電鍍是國民經濟中*的基礎工藝性行業,要提高電鍍企業的實力就必須從企業的硬件著手,而內部管控測試是*的環節。電鍍,就是通過電化學的方法,將一種金屬或金屬化合物鍍覆到基體上的工藝。電鍍的基本原材料就是鋅、鎳、銅、鉻及金、銀等重金屬。鍍層測量已成為金屬加工業進行成品質量檢測*的重要工序之一,是產品達到優質標準的*手段。目前,國內外已普遍按統一的標準測定鍍層厚度,鍍層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的進步而變得更加重要。
二、解決方案
zuijia的鍍層無損檢測方法
目前常用的鍍層檢測方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光光譜法等。前五種方法要損壞產品或產品表面,是屬于有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟,可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數,是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。西凡科技生產的鍍層檢測儀使用的就是X射線熒光光譜法這一*的檢測技術。
X射線熒光光譜法(XRF)的工作原理是利用X射線激發被測物體表面,使得其表面原子發生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。
選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由:
1、無損檢測
鍍層工藝的高要求,讓楔切法、光截法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用,市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法,而X射線熒光光譜法無非是zuijia的鍍層無損檢測方法。
2、強化品質管控
X熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數據,這是做好電鍍品質管控的前提。
3、提升生產力
傳統的檢測技術,既耗時又耗人力,而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力,且檢測速度快、精度高,這對提高電鍍企業生產力、節約成本有很大幫助,從而帶來更多的經濟效益。
4、提升市場競爭力
X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業提升勞動生產力,也可以幫助電鍍企業在行業里保持領xian的競爭優勢。
儀器推薦:鍍層檢測儀XRF-9500
鍍層檢測儀XRF-9500根據多年的鍍層檢測技術和經驗,自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一。它配備了美國進口的Si-PIN探測器,并集成探測器供電控制系統等十多項自主研發產品,符合鍍層檢測標準GB/T 16921-2005。
鍍層厚度分析儀性能特點
無損:無損檢測,不需要任何耗材
精準:美國進口Si-PIN探測器,對所有元素均能精準檢測
簡便:操作簡易,無需專業測試人員,無需嚴格的測試條件
快速:3秒內可對樣品定性識別,60秒內可得出測試結果
直觀:高清晰圖形即時顯示,檢測結果直觀明了
安全:加裝防輻射裝置,主動保護操作人員安全
鍍層厚度分析儀技術參數
設備原理:X熒光能量色散
元素分析:從Na~U的所有元素
檢出限:100ppm(zuijia基體效應)
測量精度:±10PPM~0.1%
擴展不確定度:≤0.19%
鍍層測量:鍍層厚度范圍<30um
X射線源:Mo靶的X射線光管 風冷(無輻射)
探測器:Si-PIN探測器(美國進口)
分辨率:145Kev±5
攝像頭:高清晰攝像定位系統
軟件:菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算
高壓器:0~50Kv(進口)
溫度:-11~46℃
電壓:100~127V或220~240V,50/60Hz
zui大功率:144W
主體結構:高強度金屬支架 工程塑料外殼
重量:32公斤
尺寸:650*450*350mm
標準配置
主動式射線保護
高壓過壓保護
光管過熱保護
全局故障診斷
升降壓預啟動
擴展線材及輔助支架
三、我們的服務
從售前、售中到售后,為客戶提供一條龍的周到服務。
1、售前咨詢:關注客戶應用需求,提供合理專業的解決方案,或者邀請客戶現場體驗操作等。
2、操作培訓:為客戶提供完整的產品操作手冊,并通過線上或者上門的方式為客戶提供安裝指導和操作培訓。
3、客戶回訪:定期回訪客戶,聽取客戶的建議,幫助客戶解決實際操作過程中遇到的問題。
4、產品保修:所有產品均實行國家三包政策,保修一年,三個月包換,終身維護。
5、升級服務:終身為客戶提供免費的軟件升級服務。
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