貴金屬檢測儀
- 產品型號:EXF-9500
- 更新時間:2016-11-09
- 產品介紹:在貴金屬檢測領域,傳統的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測,具有消耗性和危險性,且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟,可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數,是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。
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產品介紹
一、前言
近年來,隨著人們消費意識的不斷提升,人們對珠寶首飾的質量及真假越來越重視,然而社會上“假珠寶”、“假黃金”等不良現象時常發生,使珠寶首飾商家與消費者之間的信任危機越來越突出,珠寶首飾的檢測鑒定也越來越受到商家及消費者的關注。西凡科技積極響應市場需求,結合多年的貴金屬檢測技術和經驗,自主研發生產出了一系列X射線熒光光譜檢測儀,可以幫助珠寶首飾商家規避交易風險,提升自身競爭力和社會形象,從而帶來更多的營業收入。
二、解決方案
zuijia的金銀首飾無損檢測方法
在貴金屬檢測領域,傳統的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測,具有消耗性和危險性,且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟,可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數,是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。
X射線熒光光譜法(XRF)的工作原理是利用X射線激發被測物體表面,使得其表面原子發生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。
性能特點
無損:無損檢測,不需要任何耗材
精準:美國進口Si-PIN探測器,對所有元素均能精準檢測
便捷:集成工業計算機,雙觸摸屏顯示設計,操作流暢便捷
快速:3秒內可對樣品定性識別,60秒內可得出測試結果
直觀:高清晰圖形即時顯示,檢測結果直觀明了
安全:加裝防輻射裝置,主動保護操作人員安全
技術參數
設備原理:X熒光能量色散
元素分析:全元素
檢出限:100ppm(zuijia基體效應)
測量精度:±10PPM~0.1%
擴展不確定度:≤0.19%
鍍層測量:鍍層厚度范圍<30um
X射線源:Mo靶的X射線光管 風冷(無輻射)
探測器:Si-PIN探測器(美國進口)
分辨率:145Kev±5
攝像頭:高清晰攝像定位系統
軟件:菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算
高壓器:0~50Kv(進口)
溫度:-11~46℃
電壓:100~127V或220~240V,50/60Hz
zui大功率:144W
主體結構:高強度金屬支架+工程塑料外殼
重量:33公斤
尺寸:670*400*330mm
標準配置
主動式射線保護
高壓過壓保護
光管過熱保護
全局故障診斷
升降壓預啟動
擴展屏(3.2/4.3)
擴展線材及輔助支架
我們的服務
從售前、售中到售后,為客戶提供一條龍的周到服務。
1、售前咨詢:關注客戶應用需求,提供合理專業的解決方案,或者邀請客戶現場體驗操作等。
2、操作培訓:為客戶提供完整的產品操作手冊,并通過線上或者上門的方式為客戶提供安裝指導和操作培訓。
3、客戶回訪:定期回訪客戶,聽取客戶的建議,幫助客戶解決實際操作過程中遇到的問題。
4、產品保修:所有產品均實行國家三包政策,保修一年,三個月包換,終身維護。
5、升級服務:終身為客戶提供免費的軟件升級服務。
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